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中毒引起的失活金属触媒

  催化剂失活指催化剂在使用中会因各种因素而失去活性的现象，金属触媒贵金属催化剂的失活原因一般分为中毒、烧结和热失活、结焦和堵塞三大类。

 中毒引起的失活

(1)暂时中毒(可逆中毒)： 毒物在活性中心上吸附或化合时，生成的键强度相对较弱可以采取适当的方法除去毒物，金属触媒的作用，使催化剂活性恢复而不会影响催化剂的性质，这种中毒叫做可逆中毒或暂时中毒。

(2)永酒中毒(不可逆中毒)： 毒物与催化剂活性组份相互作用，形成很强的的化学键，难以用一般的方法将毒物除去以使催化剂活性恢复，这种中毒叫做不可逆中毒或永酒中毒。

(3)选择性中毒： 催化剂中毒之后可能失去对某一反应的催化能力，但对别的反应仍有催化活性，这种现象称为选择中毒。在连串反应中，如果毒物仅使导致后继反应的活性位中毒，则可使反应停留在中间阶段，获得高产率的中间产物。

   表面上的原子排列与体相的相近，原子间距也大致相等。由于紧密堆积在热力学上较为有利，暴露于表面上的金属原子，哪里买金属触媒，往往形成晶面指数低的面，即表面晶胞结构为（1×1）的低指数面热力学才是稳定结构。

   金属表面暴露在气氛中，总会发生吸附现象。在大多数情况下，金属触媒，表面上总是覆盖上接近吸附层的吸附质。若气体分子与表面原子是一对一的吸附，则吸附质的排列与底层结构相同，其它吸附层在表面的排列还有更复杂的结构。

  价键理论认为，过渡金属原子以杂化轨道相结合。杂化轨道通常为s、p、d等原子轨道的线性组合，称之为spd或dsp杂化。杂化轨道中d原子轨道所占的百分数称为d特性百分数，用符号d%表示。它是价键理论用以关联金属催化活性和其他物性的一个特性参数。

  金属d%越大，相应的d能带中的电子填充越多，d空穴就越少。d%和d空穴是从不同角度反映金属电子结构的参量，且是相反的电子结构表征。它们分别与金属催化剂的化学吸附和催化活性有某种关联。就广为应用的金属加氢催化剂来说，d%在40~50%为宜。